안녕하세요.

인천 영종도 경제자유구역에 소재하고 있는 반도체 패키징 업체로 스태츠칩팩코리아 윤성대 차석이라고 합니다. 문의 드리는 내용은 Wafer 표면 vision 검사 장비에서 불량사진을 얻고, 이것을 사람이 classification하고 있는데 자동으로 판독하는 시스템을 개발하려고 검토 중입니다.

관련 연구/개발수행이나 관련업체 정보를 구하고 있습니다.

현재 제조 검사 공정에서 업무는 아래와 같습니다.

   (1)검사 장비에서  제품reference( image평균)와 비교하여 차이가 있는 부분을 detection image를 찍습니다.

       장비 업체/model에 따라 image의 해상도 등이 다릅니다.

   (2) detection image를 작업자가 눈으로 컴퓨터 화면 image보고 Good/reject/defect mode classification을 수행합니다.

상기 2번 항을 Deep learning CNN classification하여 처리속도향상과 작업자 검토 부담을 줄이려 하는데, 현재 장비업체 개발 중인SW는 업체/모델 별로 SW달라서 이것을 한 곳에서 통합 처리 하는 것이 training이나 유지/개선에 유리할 것 같아 검토하고 있습니다..

  (1) 관련 image classification소개/적용(구현)사례/센터 기술 소개 요청드립니다.

     회사방문하여 세미나 가능하시면 시간/비용 알려주시면 매니지먼트 승인 후 진행하고자 합니다.

  (2) image classification 연구/개발 수행(칩팩과 협업(training image준비) 또는 가능한 업체 소개) 시 시간/비용 예상. 세미나 진행 기회가 된다면 제안해 주시면 될 것 같습니다.

감사합니다.

스태츠칩팩코리아 BUMP-PE(Production Eng'g) 윤성대 차석/032-340-3569,010-3348-7412